扫描电子显微镜是利用材料表面微区的特征（如形貌、原子序数、化学成分、或晶体结构等）的差异，在电子束作用下通过试样不同区域产生不同的亮度差异，从而获得具有一定衬度的图像。扫描电子显微镜，是自上世纪60年代作为商用电镜面世以来迅速发展起来的一种新型的电子光学仪器，被广泛地应用于化学、生物、医学、冶金、材料、半导体制造、微电路检查等各个研究领域和工业部门。
扫描电子显微镜的工作原理如下：
电子源产生电子束：SEM使用热阴极或场发射电子枪产生高能电子束，这些电子束被聚焦成小直径的束流。
样品准备：待测试的样品需要进行预处理，通常包括去除表面污染物、涂覆导电层（如金属薄层）等。
样品扫描：电子束通过聚焦和扫描系统，在样品表面进行扫描。扫描过程是通过扫描线按照预定方式移动并逐点照射样品表面。
信号生成：当电子束与样品相互作用时，会产生多种信号，包括二次电子、反射电子、散射电子和特征X射线等。
信号检测：采集并检测上述信号，并将其转换为电子图像或光谱数据。
数据显示与分析：通过电子图像展示样品表面的形貌和组成信息，可以进行进一步的分析和观察。
扫描电子显微镜具有以下特点：
高分辨率：相比光学显微镜，SEM具有更高的分辨率，可以显示更小尺寸的细节。
大深度视场：SEM具有较大的深度视场，使得整个样品表面能够被观察，不受焦距限制。
表面形貌观察：SEM可用于观察样品的表面形貌，包括纹理、坑洞、凹凸等微观结构。
元素组成分析：SEM结合能谱分析技术（EDS或EDX）可以测量样品中元素的组成，提供定性和定量的元素分析结果。
