当使用扫描电子显微镜(SEM)时,随着观察时间增加,电子束可以*改变甚至降解在被观察样品。我们并不喜欢这种降解过程,因为它会改变或甚至破坏观察细节,从而影响实验结果。本文会讲述降解效应的产生原因以及解决办法。
在扫描电镜 SEM 中是使用聚焦电子束扫描样品表面,获取信号并处理来获得图像。电子由灯丝产生并被高压电场加速。高压一般在 1 kV 至 30 kV 之间,典型的束流一般在纳安范围。
经过高压加速的电子与样品表面相互作用,对于不导电样品,这种相互作用可能损害样品和降解样品。该过程表现为样品表面产生的裂纹,或者是材料熔化甚至沸腾。降解速度随加速电压,观察束流和放大倍数的变化而变化。
图1:不同种类非导电材料的降解现象
对于那些看起来像是熔化或沸腾了的样品,你可能会认为是由于材料被电子束加热导致的。 然而实际模拟结果表明,只有对于案例,温度才会达到材料的熔点。在这些案例中,是用极大束流、*倍数聚焦极低热导系数的样品。不过,在低束流和低放大倍数下也可以发生降解效应,只是需要的时间更久些。
是什么原因导致降解效应?
入射电子照射到样品上之后,与样品原子中的电子发生相互作用。如果价电子碰巧被激发,它将留下一个空穴。该电子空穴必须在 100 飞秒内(即原子振动周期)被另一个电子填充,否则化学键将断裂。在导电材料中,这不是问题,因为电子空穴填充在 1 飞秒(fs)内。但是对于非导电材料,可能需要多达几微秒来填充电子空穴,导致化学键被破坏,进而改变化学材料及其形态。
如何减缓降解效应?
降解速度因材料不同而有很大差异,有些样品你可能根本看不到。如果样品降解并且会干扰您的结果,那么这里有一些提示可以减缓降解:
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